DAQ 데이터 로거를 통한 효율적인 설계 검증 솔루션
DAQ 데이터 로거를 통한 효율적인 설계 검증 솔루션
  • 최광민 기자
  • 승인 2019.03.26 08:30
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특히 보드 설계에서 전압, 전류, 온도를 테스트 할 때에는 고도의 정밀성과 커넥터 유연성, 그리고 테스트 순서에 대한 단순한 프로그래밍이 필요하다. 

설계는 복잡하지만 설계 검증은 이제 그럴 필요가 없다. 키사이트의 새로운 DAQ 시스템으로 효율적인 데이터 수집을...

오늘날 제품 설계가 복잡해지면서 제품 테스트의 범위 또한 넓어지고 있다. 특히 보드 설계에서 전압, 전류, 온도를 테스트 할 때에는 고도의 정밀성과 커넥터 유연성, 그리고 테스트 순서에 대한 단순한 프로그래밍이 필요하다. 설계는 복잡하지만 설계 검증은 이제 그럴 필요가 없다. 키사이트의 새로운 DAQ 시스템으로 효율적인 데이터 수집을 보장한다. 

키사이트의 최신 'DAQ970A 멀티채널 데이터 수집(DAQ) 시스템'은 BenchVue 프로그래밍 기능과 결합하여 다음과 같은 기능을 제공한다. 

초당 최대 5,000회 판독의 빠른 측정 속도와 초당 최대 450개 채널의 스캔 속도와 여러 고성능 어플리케이션을 위해 광범위한 온도 범위(-200°C~1,800°C)를 측정할 수 있으며, 기계식 회전 역학, 전력선 주기를 측정하기 위해 최대 300kHz의 신호 주파수를 측정할 수 있다. 특히 산업 전반에 걸쳐 높은 전압이 증가하고 있는 상황에서, 최대 300V의 높은 전압을 측정할 수 있다.

가장 광범위한 신호 유형에 대한 고정밀 측정 프로그래밍이 필요 없는 테스트 자동화와 업계 최고의 스캔 및 판독 속도의 광범위한 측정 옵션을 엔지니어에게 제공하여 개발 프로세스의 속도를 높인다.

또한, 매우 낮은 전류 범위(1μA DC~100μA AC)와 높은 저항 범위(1000MΩ)를 측정할 수 있는 능력과 시간 및 온도 변화에 기인한 내부 드리프트를 보상하는 새로운 자동 교정 기능 등을 제공하며, DAQ 데이터 로거를 사용해 배터리를 최적화 시킬수 있다. 더 자세한 내용 및 관련 기술 자료는 간단한 등록으로 다운 받을 수 있다. (다운받기)


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