안리쓰, E-대역 마이크로웨이브 패시브 부품의 테스트 비용 절감하는 Shockline VNA솔루션 출시
안리쓰, E-대역 마이크로웨이브 패시브 부품의 테스트 비용 절감하는 Shockline VNA솔루션 출시
  • 최광민 기자
  • 승인 2015.11.24 19:31
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MS46500B 시리즈의 새로운 주파수 옵션, 가격/성능 이점 제공
안리쓰 Shockline E-Band(사진제공: 안리쓰코퍼레이션)
안리쓰(Anritsu Company)가 2-포트/ 4포트 기능의 VNA(Vector Network Analyzer) 중 ShockLine™ MS46500B시리즈를 위한 E-대역 옵션을 도입했다고 발표했다.

이 옵션은 E-대역 부품의 테스트 비용을 줄이려는 시장의 요구 조건을 충족시킨다. 이 옵션이 설치된 MS46500B 시리즈는 생산 비용을 줄이고 제조시 안테나, 필터 및 듀플렉서와 같은 고주파수 패시브 부품에 대한 성능을 더욱 효율적으로 검증할 수 있다.

E-대역 주파수 성능과 함께, 안리쓰는 ShockLine MS46500B 시리즈를 위해 20 GHz 및 40 GHz 옵션도 도입했다. 이러한 옵션을 갖춘 MS46500B VNA는 마이크로웨이브 애플리케이션과 관련된 S파라미터와 시간 영역(time-domain)에 대한 측정 요건을 만족시킨다.

비용 효율적인 E-대역 솔루션

55 GHz ~ 92 GHz E-대역 주파수 옵션을 갖춘 MS46500B는 E-대역 VNA 시장에서 뛰어난 고성능과 경제성을 제공하며, 비용에 민감한 애플리케이션에서 고가의 광대역 시스템을 잘 선택할 수 있는 기반을 제공한다. 2개 및 4개 포트 구성으로 이용할 수 있는 이 제품은 ShockLine VNA 제품군의 주파수 범위가 확장되어, MS46500B가 5G 소형 셀 네트워크, 운전자 보조/충돌 방지 레이더. 근거리/원거리 안테나, 개인용 통신 애플리케이션에서 사용된 밀리미터파 패시브 부품들을 테스트하는데 이상적인 성능을 지원한다.

마이크로웨이브 옵션

새로운 20 GHz 및 40 GHz 옵션들은 전력 제어, LRL/LRM 보정 기능을 비롯해 기존 ShockLine 마이크로웨이브 VNA에서 이용할 수 없었던 성능을 추가했다. MS46500B는 마이크로웨이브 옵션을 통해 네트워크 장비, 자동차, 신호 무결성, 시스템 통합 애플리케이션에서 사용되는 부품들을 테스트하는 데 이상적이다. ShockLine MS46500B 시리즈는 40 GHz에서 120 dB의 동적 범위, 완벽한 원격 프로그래밍 성능, 소형 3U랙실장 가능한 패키지의 특징 덕분에 측정 시스템으로 통합하는데 매우 적합하다.

2포트 MS46522B 및 4포트 MS46524B VNA는 다른 ShockLine 계측기로써 동일한 소프트웨어, 명령 신택스(syntax), 드라이버, 프로그래밍 환경을 사용한다. 강력한 기능은 E-대역 및 변경을 거의 하지 않거나 변경이 필요 없는 마이크로웨이브 계측기에서 ShockLine 제품군 VNA로 쓰여진 프로그램 코드를 재사용할 수 있다.

ShockLine 소프트웨어는 수동 테스트 환경을 위해 강력한 그래픽 사용자 인터페이스(GUI)도 제공한다. 사용자 공급형의 터치스크린 모니터로 부착될 때, 모든 기능의 GUI는 네트워크 추출(network extraction), 임베디드/디임베디드 네트워크, Time Gate 기능을 포함한 시간영역 측정 등 포괄적인 성능을 제공한다. 테스트 프로그램을 개발하고 트러블슈팅하는 과정은 최첨단 마커(marker) 기능, Limit line 및 소프트웨어의 다른 기능으로 더 쉽게 이루어진다.

ShockLine MS46500B VNA 시리즈는 2 GHz에서 140 dB로 동종업계 최상의 동적 범위를 제공하며 최고 40 GHz 에서 120 dB를 초과하는 범위를 제공할 뿐 만 아니라, 스윕 시간과 업계에서 가장 우수한 최대 출력 전력을 경제적인 가격으로 모두 제공한다. 이 시리즈는 1,2,4 포트 모델의 특징을 갖춘 5가지 ShockLine 시리즈 중 하나이다. 모든 ShockLine VNA는 어떠한 테스트 환경에서라도 잘 맞출 수 있는 LAN 또는USB 인터페이스로 설계되어 있으며, 비용에 민감한 제조, 엔지니어링, 교육 애플리케이션에서 패시브 디바이스를 경제적으로 테스트할 수 있다. 
 
 
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