키사이트, 이중 펄스 테스트 기능이 포함된 동적 전력 디바이스 분석기 발표
키사이트, 이중 펄스 테스트 기능이 포함된 동적 전력 디바이스 분석기 발표
  • 최광민 기자
  • 승인 2019.08.01 11:38
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와이드 밴드갭(WBG) 반도체에 대한 안전한 테스트 환경 보장
이중 펄스 테스트 기능이 포함된 동적 전력 디바이스 분석기(사진:키사이트)
이중 펄스 테스트 기능이 포함된 동적 전력 디바이스 분석기(사진:키사이트)

키사이트테크놀로지스가 이중 펄스(Double Pulse) 테스터가 포함된 새로운 동적 전력 디바이스 분석기 PD1500A를 발표했다. 이 분석기는 측정 하드웨어와 테스트를 수행하는 전문가의 안전을 보장하면서 와이드 밴드갭(WBG) 반도체에 대한 안정적이고 반복 가능한 측정을 제공한다.

글로벌 전기차 시장(EV)의 성장이 소형의 고전력, 고효율 전기 전력 시스템에 대한 탄탄한 수요를 촉진하고 있다. 재생 에너지와 EV와 같은 미션 크리티컬 분야에서 업계가 와이드 밴드갭 반도체 기술로 전환하고 있는 지금,많은 전력 변환기 설계자들이 IGBT(insulated-gate bipolar transistor), SiC(silicon carbide), GaN(gallium nitride) 등 새로운 세대의 반도체 특성화와 관련한 잠재적인 신뢰성 및 반복성 위험 때문에 이 새로운 기술을 채택하는 데주저하고 있다.

SiC 또는 GaN 디바이스의 완벽한 특성화를 위해서는 정적 및 동적 측정이 요구된다. 키사이트 B1505A 및 B1506A 전력 디바이스 분석기가 이러한 동적 측정을 제공하며, 새로운 PD1500A 추가로 다양한 동적 측정을 처리하는 데 필요한 유연성까지 제공한다. 반도체 거래 및 엔지니어링 표준화 기구인 JEDEC(Joint Electron Device Engineering Council)가 제정한 와이드 밴드갭 디바이스 표준이 계속해서 발전하고 있기 때문에 이러한 기능은 매우 중요한 요소이다.

키사이트의 PD1500A는 모듈식으로 설계되어 있어 많은 디바이스 유형을 테스트할 수 있고 다양한 전력 수준에서 여러 특성화 테스트를 수행할 수 있다. 초기 시스템은 최대 정격이 1.2 kV와 200 A인 Si 및 SiC 전력 반도체에 대한 완벽한 이중 펄스 테스트 특성화와 매개변수 추출을 제공한다. 향후 GaN 및 전력 모듈과 같이 더 많은 전류를 필요로 하는 디바이스에서 테스트를 수행할 수 있도록 PD1500A에 모듈이 추가될 것이다.

한편, 키사이트 오토모티브 및 에너지 솔루션 그룹 부사장 겸 총괄 매니저인 시그프리드 그로스(Siegfried Gross)는 “혁신적인 전력 디바이스로 안전하고 일관되게 전환하기 위해, 오토모티브 e-모빌리티 에코시스템은 기존에 사용하던 자체 개발한 동적 테스트 시스템을 진화해야 할 필요성이 있는데 이는 보증되지 않는 성능 및 특성화로 안정성이 떨어질 수 있다”며, “키사이트는 반복 가능하며 안전한 동적 전력 디바이스 특성화에 필수적인 이중 펄스 테스트 측정 기능이 있는 동적 전력 디바이스 분석기 플랫폼을 제공하기 위해 반도체 제조업체를 비롯하여 에너지 및 EV 업계의 설계자들과 긴밀하게 협력하고 있다”고 덧붙였다.


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